描述 | END BRACKET 7.5MM FOR TERM BLOCK | 位置数 | - |
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适用于相关产品 | SRDI 2.5、SRDIS 2.5 系列 | 颜色 | 浅褐 |
其它名称 | ED2481ES 35/2/K |
步,在经济全球化的浪潮中占领一席之地。 参考文献 [1] 缪学勤. 实时以太网技术最新发展. 北京:电气时代,2005.6 [2] 林 跃,张彦成. 嵌入式系统促进工业控制领域发展. 上海:世界仪表与自动化,2006.2 [3] 余启刚. 仪器仪表的虚拟化、网络化和智能化. 北京:自动化博览,2003.1 [4] 陈运珍. 水工业厂站级监控系统的最新模式研究. 北京:测控技术,2005.10 [5] 孙延才. 嵌入式系统与自动化. 上海:世界仪表与自动化,2005.2 ...
0稳定可靠的表现出乎我们的意料,非常令人满意。根据测试结果,经过讨论决定,采用sitrans lr400作为ps装置的液位测量解决方案来替换原来的雷达液位计。解决了这一难题,对我们提高工艺的控制精度、改善产品质量、降低生产成本带来明显的益处。 通过这次和西门子pi的合作,使我们了解到了西门子雷达液位计产品的优良的性能,也感受到了西门子pi认真严谨的工作理念、专业的技术服务能力和积极热情的服务态度。 参考文献: 1、西门子(中国)有限公司. sitrans lr400 雷达物(液)位计操作手册. 2005.2 2、黄波. siemens雷达液位计在复杂工况中的测量试验.化工自动化仪表.2005.8 www.dzsc.com 中国电子市场网 曹涵 推荐 ...
labview7.1开发的虚拟操作平台,可实现数据在pc上的实时显示。本设计的成本还不到市场上同性能产品的1/2,更适用于教学等对产品数量要求较多,性能要求中等的单位采用。 参考文献 1.邓火炎,王磊,等编著.labview 7.1测试技术与仪器应用[m].机械工业出版社,2004.7 2. silicon laboratories.cp2102 datasheet. rev. 1.0 2004.4. 3. 刘和平 等编著.pic18fxxx单片机程序设计及应用[m].北京航空航天大学出版社, 2005.2 ...
步,在经济全球化的浪潮中占领一席之地。 参考文献 [1] 缪学勤. 实时以太网技术最新发展. 北京:电气时代,2005.6 [2] 林 跃,张彦成. 嵌入式系统促进工业控制领域发展. 上海:世界仪表与自动化,2006.2 [3] 余启刚. 仪器仪表的虚拟化、网络化和智能化. 北京:自动化博览,2003.1 [4] 陈运珍. 水工业厂站级监控系统的最新模式研究. 北京:测控技术,2005.10 [5] 孙延才. 嵌入式系统与自动化. 上海:世界仪表与自动化,2005.2 ...
子电气产品中铅、汞、镉、铬、溴的测定 第一部分:x射线荧光光谱定性筛选法》2. sn/t 2004.1—2005 《电子电气产品中汞的测定 第一部分:原子荧光光谱法》3. sn/t 2004.2—2005 《电子电气产品中铅、镉、铬的测定 第二部分:火焰原子吸收光谱法》4. sn/t 2004.3—2005 《电子电气产品中六价铬的测定 第三部分:二苯碳酰二肼分光光度法》5. sn/t 2005.1—2005 《电子电气产品中多溴联苯和多溴联苯醚的测定 第一部分:高效液相色谱法》6. sn/t 2005.2—2005 《电子电气产品中多溴联苯和多溴联苯醚的测定 第二部分:气相色谱法—质谱法》 ...
图3 无错情形下psnr值对比 结语 通过对编码端的非零dct系数加入脆弱水印信息,形成传输数据与加入信息的特定强制关系,在解码端校验约定的强制关系来判断数据的完整性这种错误检测方法,相对基于语法的传统错误检测方法有更高的错误检测率,而且这种检测方法在传输比特流中不会增加额外的开销而影响传输效率,但该方法的psnr值会有少量降低,若从人眼视觉分辨能力考虑,少量的psnr值降低不会影响视频效果。 参考文献: 1毕厚杰,新一代视频压缩编码标准-h264/avc[m].人民邮电出版社,2005.2 余兆明,查日勇等,图像编码标准袶.264技术[m].人民邮电出版社,2006.3 范文杰,h.264数字视频差错控制技术的研究[d].成都,成都理工大学档案馆,2006. 来源:xiangxueqin ...
watson 研究中心、fishkill、poughkeepsie、 burlington、 austin和 rochester 等地的科学家们总是有新的想法,并且他们总能想到新的方法去测试他们遇到的问题。所以这是一个非常有趣的工作,并且总有新事情出现。” 参考文献: 1."noncontact probe system targets 65-nm technology," test industry news, test & measurement world, july 18, 2005.2.nelson, rick, "failure analysis gains electrical, microscopy tools," test & measurement world, september 2005.3. lsm datasheet http://www.dzsc.com/datasheet/lsm_2405747.html. 来源:xiangxueqin ...
5.html.[7]. pic18fxxx datasheet http://www.dzsc.com/datasheet/pic18fxxx_1038008.html.[8].邓火炎,王磊,等编著.labview 7.1测试技术与仪器应用[m].机械工业出版社,2004.7[9]. silicon laboratories.cp2102 datasheet. rev. 1.0 2004.4.[10]. 刘和平 等编著.pic18fxxx单片机程序设计及应用[m].北京航空航天大学出版社, 2005.2来源:xiangxueqin ...