| 描述 | IC SCAN TEST DEVICE 56TSSOP | 电源电压 | 4.5 V ~ 5.5 V |
|---|---|---|---|
| 位数 | 18 | 工作温度 | -40°C ~ 85°C |
| 安装类型 | 表面贴装 | 封装/外壳 | 56-TFSOP（0.240"，6.10mm 宽） |
| 供应商设备封装 | 56-TSSOP | 包装 | 带卷 (TR) |
【Texas Instruments】74ABT18640DGGRE4,IC 18BIT INV BUS TXRX 56-TSSOP
【Texas Instruments】74ABT18640DGGRG4,IC SCAN TEST DEVICE 56TSSOP
【NXP Semiconductors】74ABT20D,门（与/非与/或/非或） DUAL 4-INPUT NAND GATE
【NXP Semiconductors】74ABT20D,112,IC DUAL 4-IN NAND GATE 14-SOIC
【NXP Semiconductors】74ABT20D,118,IC DUAL 4-IN NAND GATE 14SOIC
【NXP Semiconductors】74ABT20DB,门（与/非与/或/非或） DUAL 4-INPUT NAND GATE
【NXP Semiconductors】74ABT20DB,112,IC DUAL 4-IN NAND GATE 14-SSOP
【NXP Semiconductors】74ABT20DB,118,IC DUAL 4-IN NAND GATE 14SSOP