描述 | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP | 输入数 | - |
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电路数 | 18 位 | 输出电流高,低 | 32mA,64mA |
电源电压 | 4.5 V ~ 5.5 V | 工作温度 | -40°C ~ 85°C |
安装类型 | 表面贴装 | 封装/外壳 | 64-LQFP |
供应商设备封装 | 64-LQFP(10x10) | 包装 | 带卷 (TR) |
【Texas Instruments】74ABTH18504APMRG4,IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP
【Texas Instruments】74ABTH25245DWRE4,IC BUS TRANSCEIVER 8BIT 24SOIC
【Texas Instruments】74ABTH25245DWRG4,IC BUS TRANSCEIVER 8BIT 24SOIC
【Texas Instruments】74ABTR2245DGVRE4,IC TRANSCVR TRI-ST 8BIT 20TVSOP
【Texas Instruments】74ABTR2245DGVRG4,IC TRANSCVR TRI-ST 8BIT 20TVSOP
【Fairchild Semiconductor】74AC00MTC,IC GATE NAND QUAD 2INPUT 14TSSOP