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  • C8051F000

C8051F000

  • 制造商:-
  • 标准包装:160
  • 类别:集成电路 (IC)
  • 家庭:嵌入式 - 微控制器,
  • 系列:C8051F00x
  • 核心处理器:8051
产品属性
描述IC 8051 MCU 32K FLASH 64TQFP芯体尺寸8-位
速度20MHz连通性SMBus(2 线/I?C),SPI,UART/USART
外围设备欠压检测/复位,POR,PWM,温度传感器,WDT输入/输出数32
程序存储器容量32KB(32K x 8)程序存储器类型闪存
EEPROM 大小-RAM 容量256 x 8
电压 - 电源 (Vcc/Vdd)2.7 V ~ 3.6 V数据转换器A/D 8x12b,D/A 2x12b
振荡器型内部工作温度-40°C ~ 85°C
封装/外壳64-TQFP包装托盘

“C8051F000”技术资料

  • 基于USB接口的高增益数据采集系统研究

    线这一优势,易选用速度较快的微处理器。另外,usb接口设备是采用总线供电的,考虑到总线输出功率有限,尽量采用集成度高的器件有利于降低usb总线的负荷。 usb接口模块的选择有两种方案:一种是采用带有usb接口的单片机;另一种是采用普通单片机和usb控制芯片。对于第一种方案,不需要设计单片机和usb控制芯片之间的接口电路,简化了电路设计,但是带有usb接口的单片机种类有限,从而限制了单片机的选择。对于后一种方案,可以选择所熟悉的单片机,以减小开发难度,并缩短开发周期。系统采用的是soc单片机c8051f000,usb控制芯片采用pdiusbd12。 c8051f000单片机[1]是四边扁平贴片封装,内部集成了8通道的12位a/d转换器, 可编程增益放大器pga,自带看门狗,具有32位数字i/o端口,体积小巧,集成度高,功耗较小,满足usb总线供电的要求。而且,c8051f000单片机最大工作频率可达到25mips,采用流水线结构,是单指令周期单片机,运行速度也较快,适于开发usb设备。 pdiusbd12 是philips 公司推出的符合usb1.1版规范的带并行总线的接口芯片。片内集成 ...

  • Cygnal在片系统单片机的特点与应用

    1引言 cygnal c8051f系列是全集成混合信号在片系统单片机。在片系统随着半导体生产技术的不断发展,集成度越来越高,对嵌入式控制技术可靠性要求也越来越高而产生的新概念,即soc(system on chip),意思是整个系统都高度集成在一个芯片上。本文通过使用cygnal c8051f000制作一个智能故障分析报警仪,介绍cygnal c8051fxxx系列全集成混合信号在片系统单片机的特点,及其在智能仪器中的一般使用方法,和一些需要注意的问题。 故障分析报警仪的原理:从4个不同点采集电压和电流数据,综合分析,得出故障的原因和位置,相应地提供报警、显示和电路切除。 2c8051f000单片机简介 2.1片内资源概况 (1)12 位8通道输入adc; (2)2路12位dac; (3)2路电压比较器; (4)电压基准(内部、外部); (5)内置温度传感器(±3 ℃); (6)16位可编程定时计数器(pca)可用于(pwm); (7)4个通用16位定时器; (8)32个通用i/o口; (9)带有i2c/smbus,spi ...

  • 嵌入式计算系统调测方法与技术综述

    态的设定和读取,使芯片引脚状态具有可控性和可观测性。边界扫描测试技术最初由各大半导体公司(philips、ibm、intel等)成立的联全测试行动小组jtag(join test action group)于1988年提出,1990年被ieee规定为电子产品可测试性设计的标准(ieee1149.1/2/3)。目前,该标准已被一些大规模集成电路所采用(如dsp、cpu、fpga等),而访问边界扫描测试电路的接口信号定义标准被称为jtag接口,很多嵌入式处理器内置了这种测试接口。在cygnal公司的c8051f000系列单片机中和一些fpga芯片中,jtag接口不仅能用于测试,也是器件的编程接口。ieee1149.1标准支持以下3种测试功能:*内部测试——ic内部的逻辑测试;*外部测试——ic间相互连接的测试;*取样测试——ic正常运行时的数据取样测试。图3给出了具有2个芯片的系统的边界扫描测试原理。图3中,tck为测试同步时钟输入,tms为测试模式选中输入,tdi为测试数据输入,tdo为测试数据输出,由测试移位寄存器产品。图3中的小方框表示位于芯片外围的边界扫描测试逻辑单元,芯片每个引脚信号经过边界扫描单 ...

  • 嵌入式计算系统

    读取,使芯片引脚状态具有可控性和可观测性。 边界扫描测试技术最初由各大半导体公司(philips、ibm、intel等)成立的联全测试行动小组jtag(join test action group)于1988年提出,1990年被ieee规定为电子产品可测试性设计的标准(ieee1149.1/2/3)。 目前,该标准已被一些大规模集成电路所采用(如dsp、cpu、fpga等),而访问边界扫描测试电路的接口信号定义标准被称为jtag接口,很多嵌入式处理器内置了这种测试接口。在cygnal公司的c8051f000系列单片机中和一些fpga芯片中,jtag接口不仅能用于测试,也是器件的编程接口。 ieee1149.1标准支持以下3种测试功能: *内部测试——ic内部的逻辑测试; *外部测试——ic间相互连接的测试; *取样测试——ic正常运行时的数据取样测试。 图3给出了具有2个芯片的系统的边界扫描测试原理。 图3中,tck为测试同步时钟输入,tms为测试模式选中输入,tdi为测试数据输入,tdo为测试数据输出,由测试移位寄存器产品。图3中的小方框表示位于芯片外围的边界扫描测试逻辑单元,芯片每个引脚 ...

“C8051F000”DZBBS

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    cygnal 8051f.html">c8051f系列是全集成混合信号在片系统单片机。在片系统随着半导体生产技术的不断发展,集成度越来越高,对嵌入式控制技术可靠性要求也越来越高而产生的新概念,即soc(system on chip),意思是整个系统都高度集成在一个芯片上。本文通过使用cygnal 8051f.html">c8051f000制作一个智能故障分析报警仪,介绍cygnal 8051f.html">c8051fxxx系列全集成混合信号在片系统单片机的特点,及其在智能仪器中的一般使用方法,和一些需要注意的问题。 故障分析报警仪的原理:从4个不同点采集电压和电流数据,综合分析,得出故障的原因和位置,相应地提供报警、显示和电路切除。28051f.html">c8051f000单片机简介2.1片内资源概况 (1)12 位8通道输入adc; (2)2路12位dac; (3)2路电压比较器; (4)电压基准(内部、外部); (5)内置温度传感器(±3 ℃); (6)16位可编程定时计数器(pca)可用于(pwm); (7)4个通用16位定时器; (8) ...

  • 昨天又碰到一位技术说到普通AD的精度可以通过软件增加2位

    可以的,但有些条件。去新华龙下载 an018 用过采样和求均值提高adc分辨率本应用笔记适用于下列器件c8051f000 c8051f001 c8051f002 c8051f005 c8051f006 c8051f010 c8051f011 c8051f012 c8051f015 c8051f016 c8051f017 ...

  • 如何唤醒休眠的系统

    顶上谢谢楼上。不知除了上面的方法,还有没其它方法可以实现:我打算用c8051f000单片机。为了功耗,夜间数码显示关断及单片机休眠。想让它早上在指定的时间自己唤醒。相当于一个闹钟的功能。使用定时器无法定那么长时间。 ...

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