| 描述 | IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP | 电源电压 | 4.5 V ~ 5.5 V |
|---|---|---|---|
| 位数 | 20 | 工作温度 | -40°C ~ 85°C |
| 安装类型 | 表面贴装 | 封装/外壳 | 64-LQFP |
| 供应商设备封装 | 64-LQFP（10x10） | 包装 | 带卷 (TR) |
【Texas Instruments】SN74ABT18640DGGR,IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP
【Texas Instruments】SN74ABT18640DL,IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP
【Texas Instruments】SN74ABT18640DLG4,IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP
【Texas Instruments】SN74ABT18640DLR,IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP
【Texas Instruments】SN74ABT18640DLRG4,IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP
【Texas Instruments】SN74ABT18646PM,IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
【Texas Instruments】SN74ABT18646PMG4,IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP
【Texas Instruments】SN74ABT18652PM,IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP