描述 | IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC | 电源电压 | 4.5 V ~ 5.5 V |
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位数 | 8 | 工作温度 | -40°C ~ 85°C |
安装类型 | 表面贴装 | 封装/外壳 | 24-SOIC(0.295",7.50mm 宽) |
供应商设备封装 | 24-SOIC | 包装 | Digi-Reel? |
其它名称 | 296-14679-6 |
【Texas Instruments】SN74ABT8245DWRE4,IC SCAN TEST DEVICE 24-SOIC
【Texas Instruments】SN74ABT8245DWRG4,IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
【Texas Instruments】SN74ABT827DBR,IC BUFF/DVR TRI-ST 10BIT 24SSOP
【Texas Instruments】SN74ABT827DBRE4,IC BUFF/DVR TRI-ST 10BIT 24SSOP
【Texas Instruments】SN74ABT827DBRG4,IC BUFF/DVR TRI-ST 10BIT 24SSOP
【Texas Instruments】SN74ABT827DW,IC BUFF/DVR TRI-ST 10BIT 24SOIC
【Texas Instruments】SN74ABT827DWE4,IC BUFF/DVR TRI-ST 10BIT 24SOIC
【Texas Instruments】SN74ABT827DWG4,IC BUFF/DVR TRI-ST 10BIT 24SOIC