描述 | IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC | 电源电压 | 4.5 V ~ 5.5 V |
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位数 | 8 | 工作温度 | -40°C ~ 85°C |
安装类型 | 表面贴装 | 封装/外壳 | 28-SOIC(0.295",7.50mm 宽) |
供应商设备封装 | 28-SOIC | 包装 | 带卷 (TR) |
【Texas Instruments】SN74ABT8543DWRG4,IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC
【Texas Instruments】SN74ABT861DW,IC TRANSCVR TRI-ST 10BIT 24SOIC
【Texas Instruments】SN74ABT861DWE4,IC TRANSCVR TRI-ST 10BIT 24SOIC
【Texas Instruments】SN74ABT861DWG4,IC TRANSCVR TRI-ST 10BIT 24SOIC
【Texas Instruments】SN74ABT861DWR,IC TRANSCVR TRI-ST 10BIT 24SOIC
【Texas Instruments】SN74ABT861DWRE4,IC TRANSCVR TRI-ST 10BIT 24SOIC
【Texas Instruments】SN74ABT861DWRG4,IC TRANSCVR TRI-ST 10BIT 24SOIC
【Texas Instruments】SN74ABT861NSR,IC TRANSCVR TRI-ST 10BIT 24SOP