描述 | IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP | 电源电压 | 4.5 V ~ 5.5 V |
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位数 | 8 | 工作温度 | -40°C ~ 85°C |
安装类型 | 表面贴装 | 封装/外壳 | 28-BSSOP(0.295",7.50mm 宽) |
供应商设备封装 | 28-SSOP | 包装 | 管件 |
【Texas Instruments】SN74ABT8652DLR,IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP
【Texas Instruments】SN74ABT8652DLRG4,IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP
【Texas Instruments】SN74ABT8652DW,IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
【Texas Instruments】SN74ABT8652DWE4,IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
【Texas Instruments】SN74ABT8652DWG4,IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC
【Texas Instruments】SN74ABT8652DWR,IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
【Texas Instruments】SN74ABT8652DWRE4,IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
【Texas Instruments】SN74ABT8652DWRG4,IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC