| 描述 | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC | 电源电压 | 4.5 V ~ 5.5 V |
|---|---|---|---|
| 位数 | 8 | 工作温度 | -40°C ~ 85°C |
| 安装类型 | 表面贴装 | 封装/外壳 | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） |
| 供应商设备封装 | 28-SOIC | 包装 | 管件 |
| 其它名称 | 296-4116-5 |
【Texas Instruments】SN74ABT8952DWE4,IC SCAN TESST DEVICE 28-SOIC
【Texas Instruments】SN74ABT8952DWG4,IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC
【Texas Instruments】SN74ABT8952DWR,IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC
【Texas Instruments】SN74ABT8952DWRE4,IC SCAN TESST DEVICE 28-SOIC
【Texas Instruments】SN74ABT8952DWRG4,IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC
【Texas Instruments】SN74ABT8996DW,IC ADDRESSABLE SCAN PORT 24-SOIC
【Texas Instruments】SN74ABT8996DWR,IC ADDRESSABLE SCAN PORT 24-SOIC
【Texas Instruments】SN74ABT8996PW,IC ADDRESSABLE SCAN PORT 24TSSOP