| 描述 | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP | 电源电压 | 4.5 V ~ 5.5 V |
|---|---|---|---|
| 位数 | 18 | 工作温度 | -40°C ~ 85°C |
| 安装类型 | 表面贴装 | 封装/外壳 | 64-LQFP |
| 供应商设备封装 | 64-LQFP（10x10） | 包装 | 托盘 |
| 其它名称 | 296-4136 |
【Texas Instruments】SN74ABTH18646APMG4,IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP
【Texas Instruments】SN74ABTH18652APM,IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
【Texas Instruments】SN74ABTH18652APMG4,IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP
【Texas Instruments】SN74ABTH245DBR,IC BUS TRANSCEIVER 8BIT 20SSOP
【Texas Instruments】SN74ABTH245DBRE4,IC BUS TRANSCEIVER 8BIT 20SSOP
【Texas Instruments】SN74ABTH245DBRG4,IC BUS TRANSCEIVER 8BIT 20SSOP
【Texas Instruments】SN74ABTH245DGVR,IC BUS TRANSCEIVER 8BIT 20TVSOP
【Texas Instruments】SN74ABTH245DGVRE4,IC BUS TRANSCEIVER 8BIT 20TVSOP