描述 | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24SOIC | 电源电压 | 4.5 V ~ 5.5 V |
---|---|---|---|
位数 | 8 | 工作温度 | 0°C ~ 70°C |
安装类型 | 表面贴装 | 封装/外壳 | 24-SOIC(0.295",7.50mm 宽) |
供应商设备封装 | 24-SOIC | 包装 | 管件 |
【Texas Instruments】SN74BCT8244ADWR,IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
【Texas Instruments】SN74BCT8244ADWRE4,IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
【Texas Instruments】SN74BCT8244ADWRG4,IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24SOIC
【Texas Instruments】SN74BCT8244ANT,IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
【Texas Instruments】SN74BCT8244ANTE4,IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
【Texas Instruments】SN74BCT8245ADW,IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC
【Texas Instruments】SN74BCT8245ADWE4,IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC