| 描述 | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP | 逻辑类型 | 扫描测试设备，带 D 型边沿触发式触发器 |
|---|---|---|---|
| 供电电压 | 4.5V ~ 5.5V | 位数 | 8 |
| 工作温度 | 0°C ~ 70°C | 安装类型 | 通孔 |
| 封装/外壳 | 24-DIP（0.300"，7.62mm） | 供应商器件封装 | 24-PDIP |
【Texas Instruments】SN74CB3Q16210DGGR,IC SWITCH BUS 20BIT FET 48-TSSOP
【Texas Instruments】SN74CB3Q16210DGVR,IC SWITCH BUS 20BIT FET 48-TVSOP
【Texas Instruments】SN74CB3Q16210DL,IC SWITCH BUS FET 20BIT 48-SSOP
【Texas Instruments】SN74CB3Q16210DLG4,IC SWITCH BUS FET 20BIT 48-SSOP
【Texas Instruments】SN74CB3Q16210DLR,IC SWITCH BUS 20BIT FET 48-SSOP
【Texas Instruments】SN74CB3Q16211DGGR,IC SW BUS 24BIT FET 56-TSSOP
【Texas Instruments】SN74CB3Q16211DGVR,IC SW BUS 24BIT FET 56-TVSOP
【Texas Instruments】SN74CB3Q16211DL,IC SWITCH BUS FET 24BIT 56-SSOP
