| 描述 | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | 电源电压 | 2.7 V ~ 3.6 V |
|---|---|---|---|
| 位数 | 18 | 工作温度 | -40°C ~ 85°C |
| 安装类型 | 表面贴装 | 封装/外壳 | 64-LQFP |
| 供应商设备封装 | 64-LQFP（10x10） | 包装 | 托盘 |
【Texas Instruments】SN74LVTH18502APMR,IC 18BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP
【Texas Instruments】SN74LVTH18504APM,IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
【Texas Instruments】SN74LVTH18504APMG4,IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
【Texas Instruments】SN74LVTH18504APMR,IC 20BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP
【Texas Instruments】SN74LVTH18511DGGR,IC UNIV BUS TXRX 18BIT 48TSSOP
【Texas Instruments】SN74LVTH18512DGGR,IC SCAN TEST UNIV TXRX 64TSSOP
【Texas Instruments】SN74LVTH18514DGGR,IC SCAN TEST UNIV TXRX 64TSSOP
【Texas Instruments】SN74LVTH18646APM,IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP