| 描述 | 特定功能逻辑 Mil Enh 3.3V ABT Scan Test Devices | 安装风格 | SMD/SMT |
|---|---|---|---|
| 工作温度范围 | + 85 C | 工厂包装数量 | 1000 |
【Texas Instruments】V62/04730-01XE,特定功能逻辑 Mil Enh 3.3V ABT Scan Test Devices
【Texas Instruments】V62/04731-01XE,特定功能逻辑 Mil Enh 3.3V ABT Scan Test Devices
【Texas Instruments】V62/04732-01XE,门（与/非与/或/非或） Mil Enh Sgl 2-Inp Pos-NAND Gate
【Texas Instruments】V62/04732-02XE,门（与/非与/或/非或） Mil Enh Sgl 2-Inp Pos-NAND Gate
【Texas Instruments】V62/04732-02YE,门（与/非与/或/非或） Mil Enh Sgl 2-Inp Pos-NAND Gate
【Texas Instruments】V62/04733-01XE,门（与/非与/或/非或） Mil Enh Sgl 2-Inp Pos-AND Gate
【Texas Instruments】V62/04733-02XE,门（与/非与/或/非或） Mil Enh Sgl 2-Inp Pos-AND Gate
【Texas Instruments】V62/04733-02YE,门（与/非与/或/非或） Mil Enh Sgl 2-Inp Pos-AND Gate