| 描述 | IC 18BIT SCAN TEST DEV 64-LQFP | 电源电压 | 4.5 V ~ 5.5 V |
|---|---|---|---|
| 位数 | 18 | 工作温度 | -40°C ~ 90°C |
| 安装类型 | 表面贴装 | 封装/外壳 | 64-LQFP |
| 供应商设备封装 | 64-LQFP（10x10） | 包装 | 托盘 |
【Texas Instruments】74ABTH18502APMRG4,IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP
【Texas Instruments】74ABTH18504APMRG4,IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP
【Texas Instruments】74ABTH25245DWRE4,IC BUS TRANSCEIVER 8BIT 24SOIC
【Texas Instruments】74ABTH25245DWRG4,IC BUS TRANSCEIVER 8BIT 24SOIC
【Texas Instruments】74ABTR2245DGVRE4,IC TRANSCVR TRI-ST 8BIT 20TVSOP
【Texas Instruments】74ABTR2245DGVRG4,IC TRANSCVR TRI-ST 8BIT 20TVSOP
