描述 | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP | 电源电压 | 4.5 V ~ 5.5 V |
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位数 | 18 | 工作温度 | -40°C ~ 85°C |
安装类型 | 表面贴装 | 封装/外壳 | 56-TFSOP(0.240",6.10mm 宽) |
供应商设备封装 | 56-TSSOP | 包装 | Digi-Reel? |
其它名称 | 296-3937-6 |
【Texas Instruments】SN74ABT18245ADL,IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP
【Texas Instruments】SN74ABT18245ADLG4,IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP
【Texas Instruments】SN74ABT18245ADLR,IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP
【Texas Instruments】SN74ABT18245ADLRG4,IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP
【Texas Instruments】SN74ABT18502PM,IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
【Texas Instruments】SN74ABT18502PMG4,IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP
【Texas Instruments】SN74ABT18502PMR,IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP
【Texas Instruments】SN74ABT18502PMRG4,IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP