| 描述 | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP | 电源电压 | 4.5 V ~ 5.5 V |
|---|---|---|---|
| 位数 | 18 | 工作温度 | -40°C ~ 85°C |
| 安装类型 | 表面贴装 | 封装/外壳 | 56-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） |
| 供应商设备封装 | 56-SSOP | 包装 | 带卷 (TR) |
【Texas Instruments】SN74ABT18502PM,IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
【Texas Instruments】SN74ABT18502PMG4,IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP
【Texas Instruments】SN74ABT18502PMR,IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP
【Texas Instruments】SN74ABT18502PMRG4,IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP
【Texas Instruments】SN74ABT18504PM,IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
【Texas Instruments】SN74ABT18504PMG4,IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP
【Texas Instruments】SN74ABT18504PMR,IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP
【Texas Instruments】SN74ABT18504PMRG4,IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP