描述 | IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP | 电源电压 | 4.5 V ~ 5.5 V |
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位数 | 20 | 工作温度 | -40°C ~ 85°C |
安装类型 | 表面贴装 | 封装/外壳 | 64-LQFP |
供应商设备封装 | 64-LQFP(10x10) | 包装 | 带卷 (TR) |
【Texas Instruments】SN74ABT18504PMRG4,IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP
【Texas Instruments】SN74ABT18640DGGR,IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP
【Texas Instruments】SN74ABT18640DL,IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP
【Texas Instruments】SN74ABT18640DLG4,IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP
【Texas Instruments】SN74ABT18640DLR,IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP
【Texas Instruments】SN74ABT18640DLRG4,IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP
【Texas Instruments】SN74ABT18646PM,IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
【Texas Instruments】SN74ABT18646PMG4,IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP