| 描述 | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP | 电源电压 | 4.5 V ~ 5.5 V |
|---|---|---|---|
| 位数 | 20 | 工作温度 | -40°C ~ 85°C |
| 安装类型 | 表面贴装 | 封装/外壳 | 64-LQFP |
| 供应商设备封装 | 64-LQFP（10x10） | 包装 | 托盘 |
| 其它名称 | 296-3940 |
【Texas Instruments】SN74ABT18504PMG4,IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP
【Texas Instruments】SN74ABT18504PMR,IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP
【Texas Instruments】SN74ABT18504PMRG4,IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP
【Texas Instruments】SN74ABT18640DGGR,IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP
【Texas Instruments】SN74ABT18640DL,IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP
【Texas Instruments】SN74ABT18640DLG4,IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP
【Texas Instruments】SN74ABT18640DLR,IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP
【Texas Instruments】SN74ABT18640DLRG4,IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP