| 描述 | IC SCAN TEST DEV/TXRX 24-SOIC | 电源电压 | 4.5 V ~ 5.5 V |
|---|---|---|---|
| 位数 | 8 | 工作温度 | -40°C ~ 85°C |
| 安装类型 | 表面贴装 | 封装/外壳 | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） |
| 供应商设备封装 | 24-SOIC | 包装 | 管件 |
| 其它名称 | 296-4093-5 |
【Texas Instruments】SN74ABT8245DWE4,IC SCAN TEST DEVICE 24-SOIC
【Texas Instruments】SN74ABT8245DWG4,IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
【Texas Instruments】SN74ABT8245DWR,IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC
【Texas Instruments】SN74ABT8245DWRE4,IC SCAN TEST DEVICE 24-SOIC
【Texas Instruments】SN74ABT8245DWRG4,IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
【Texas Instruments】SN74ABT827DBR,IC BUFF/DVR TRI-ST 10BIT 24SSOP
【Texas Instruments】SN74ABT827DBRE4,IC BUFF/DVR TRI-ST 10BIT 24SSOP
【Texas Instruments】SN74ABT827DBRG4,IC BUFF/DVR TRI-ST 10BIT 24SSOP