| 描述 | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP | 输入数 | - |
|---|---|---|---|
| 电路数 | 20 位 | 输出电流高，低 | 32mA，64mA |
| 电源电压 | 4.5 V ~ 5.5 V | 工作温度 | -40°C ~ 85°C |
| 安装类型 | 表面贴装 | 封装/外壳 | 64-LQFP |
| 供应商设备封装 | 64-LQFP（10x10） | 包装 | 托盘 |
| 其它名称 | 296-4135 |
【Texas Instruments】SN74ABTH18504APMG4,IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP
【Texas Instruments】SN74ABTH18504APMR,IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP
【Texas Instruments】SN74ABTH18646APM,IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
【Texas Instruments】SN74ABTH18646APMG4,IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP
【Texas Instruments】SN74ABTH18652APM,IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
【Texas Instruments】SN74ABTH18652APMG4,IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP
【Texas Instruments】SN74ABTH245DBR,IC BUS TRANSCEIVER 8BIT 20SSOP
【Texas Instruments】SN74ABTH245DBRE4,IC BUS TRANSCEIVER 8BIT 20SSOP