| 描述 | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP | 逻辑类型 | 扫描测试设备，带反相缓冲器 |
|---|---|---|---|
| 供电电压 | 4.5V ~ 5.5V | 位数 | 8 |
| 工作温度 | 0°C ~ 70°C | 安装类型 | 通孔 |
| 封装/外壳 | 24-DIP（0.300"，7.62mm） | 供应商器件封装 | 24-PDIP |
【Texas Instruments】SN74BCT8244ADW,IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
【Texas Instruments】SN74BCT8244ADWE4,IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
【Texas Instruments】SN74BCT8244ADWG4,IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24SOIC
【Texas Instruments】SN74BCT8244ADWR,IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
【Texas Instruments】SN74BCT8244ADWRE4,IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
【Texas Instruments】SN74BCT8244ADWRG4,IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24SOIC
【Texas Instruments】SN74BCT8244ANT,IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
【Texas Instruments】SN74BCT8244ANTE4,IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
