| 描述 | IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC | 电源电压 | 4.5 V ~ 5.5 V |
|---|---|---|---|
| 位数 | 8 | 工作温度 | 0°C ~ 70°C |
| 安装类型 | 表面贴装 | 封装/外壳 | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） |
| 供应商设备封装 | 24-SOIC | 包装 | 管件 |
【Texas Instruments】SN74BCT8373ADWG4,IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
【Texas Instruments】SN74BCT8373ADWR,IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
【Texas Instruments】SN74BCT8373ADWRE4,IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
【Texas Instruments】SN74BCT8373ADWRG4,IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
【Texas Instruments】SN74BCT8373ANT,IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP
【Texas Instruments】SN74BCT8373ANTE4,IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP
【Texas Instruments】SN74BCT8374ADW,IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
【Texas Instruments】SN74BCT8374ADWE4,IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC