描述 | IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP | 电源电压 | 4.5 V ~ 5.5 V |
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位数 | 8 | 工作温度 | 0°C ~ 70°C |
安装类型 | 通孔 | 封装/外壳 | 24-DIP(0.300",7.62mm) |
供应商设备封装 | 24-PDIP | 包装 | 管件 |
其它名称 | 296-33848-5SN74BCT8373ANT-ND |
【Texas Instruments】SN74BCT8373ANTE4,IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP
【Texas Instruments】SN74BCT8374ADW,IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
【Texas Instruments】SN74BCT8374ADWE4,IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
【Texas Instruments】SN74BCT8374ADWG4,IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
【Texas Instruments】SN74BCT8374ADWR,IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
【Texas Instruments】SN74BCT8374ADWRE4,IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
【Texas Instruments】SN74BCT8374ADWRG4,IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
【Texas Instruments】SN74BCT8374ANT,IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP