描述 | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC | 电源电压 | 4.5 V ~ 5.5 V |
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位数 | 8 | 工作温度 | 0°C ~ 70°C |
安装类型 | 表面贴装 | 封装/外壳 | 24-SOIC(0.295",7.50mm 宽) |
供应商设备封装 | 24-SOIC | 包装 | 带卷 (TR) |
【Texas Instruments】SN74BCT8374ADWRE4,IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
【Texas Instruments】SN74BCT8374ADWRG4,IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
【Texas Instruments】SN74BCT8374ANT,IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
【Texas Instruments】SN74BCT8374ANTE4,IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
【Texas Instruments】SN74CB3Q16210DGGR,IC SWITCH BUS 20BIT FET 48-TSSOP
【Texas Instruments】SN74CB3Q16210DGVR,IC SWITCH BUS 20BIT FET 48-TVSOP
【Texas Instruments】SN74CB3Q16210DL,IC SWITCH BUS FET 20BIT 48-SSOP