| 描述 | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | 电源电压 | 2.7 V ~ 3.6 V |
|---|---|---|---|
| 位数 | 18 | 工作温度 | -40°C ~ 85°C |
| 安装类型 | 表面贴装 | 封装/外壳 | 64-LQFP |
| 供应商设备封装 | 64-LQFP（10x10） | 包装 | 托盘 |
| 其它名称 | 296-8699 |
【Texas Instruments】SN74LVTH18502APMG4,IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
【Texas Instruments】SN74LVTH18502APMR,IC 18BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP
【Texas Instruments】SN74LVTH18504APM,IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
【Texas Instruments】SN74LVTH18504APMG4,IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
【Texas Instruments】SN74LVTH18504APMR,IC 20BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP
【Texas Instruments】SN74LVTH18511DGGR,IC UNIV BUS TXRX 18BIT 48TSSOP
【Texas Instruments】SN74LVTH18512DGGR,IC SCAN TEST UNIV TXRX 64TSSOP
【Texas Instruments】SN74LVTH18514DGGR,IC SCAN TEST UNIV TXRX 64TSSOP