描述 | 校验器 IC Mil Enh NanoPwr Push Pull Out Comparator | 响应时间 | 36 us |
---|---|---|---|
补偿电压(最大值) | 5 mV | 电源电流(最大值) | 0.0008 mA |
最大功率耗散 | 385 mW | 最大工作温度 | + 125 C |
安装风格 | SMD/SMT | 封装 / 箱体 | SOT-23 |
封装 | Reel | 最小工作温度 | - 40 C |
工厂包装数量 | 3000 | Supply Voltage - Max | 16 V |
Supply Voltage - Min | 2.7 V |
【Texas Instruments】V62/04729-01XE,特定功能逻辑 Mil Enh 3.3V ABT Scan Test Devices
【Texas Instruments】V62/04730-01XE,特定功能逻辑 Mil Enh 3.3V ABT Scan Test Devices
【Texas Instruments】V62/04731-01XE,特定功能逻辑 Mil Enh 3.3V ABT Scan Test Devices
【Texas Instruments】V62/04732-01XE,门(与/非与/或/非或) Mil Enh Sgl 2-Inp Pos-NAND Gate
【Texas Instruments】V62/04732-02XE,门(与/非与/或/非或) Mil Enh Sgl 2-Inp Pos-NAND Gate
【Texas Instruments】V62/04732-02YE,门(与/非与/或/非或) Mil Enh Sgl 2-Inp Pos-NAND Gate
【Texas Instruments】V62/04733-01XE,门(与/非与/或/非或) Mil Enh Sgl 2-Inp Pos-AND Gate
【Texas Instruments】V62/04733-02XE,门(与/非与/或/非或) Mil Enh Sgl 2-Inp Pos-AND Gate