| 外观 | 制造商零件编号 | 制造商 | 描述 | 封装/外壳 | 包装 | ROHS |
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SN74ABT8952DLRG4 |
Texas Instruments | IC SCAN TESST DEVICE 28-SSOP | 28-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | 带卷 (TR) |
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SN74ABT8952DLR |
Texas Instruments | IC SCAN TESST DEVICE 28-SSOP | 28-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | 带卷 (TR) |
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SN74ABT8952DWE4 |
Texas Instruments | IC SCAN TESST DEVICE 28-SOIC | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 管件 |
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SN74ABT8952DWG4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 管件 |
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SN74ABT8952DWRE4 |
Texas Instruments | IC SCAN TESST DEVICE 28-SOIC | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 带卷 (TR) |
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SN74ABT8952DWRG4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 带卷 (TR) |
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SN74ABT8996PW |
Texas Instruments | IC ADDRESSABLE SCAN PORT 24TSSOP | 24-TSSOP（0.173"，4.40mm 宽） | 管件 |
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SN74ABTE16245DLG4 |
Texas Instruments | IC 16BIT I-WS BUS TXRX 48-SSOP | 48-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | 管件 |
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SN74ABTE16245DLR |
Texas Instruments | IC 16BIT I-WS BUS TXRX 48-SSOP | 48-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | 带卷 (TR) |
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SN74ABTE16246DLG4 |
Texas Instruments | IC 11BIT I-WS BUS TXRX 48-SSOP | 48-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | 管件 |
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SN74ABTE16246DLRG4 |
Texas Instruments | IC 11BIT I-WS BUS TXRX 48-SSOP | 48-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | 带卷 (TR) |
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SN74ABTH16460DLG4 |
Texas Instruments | IC REGISTERED TRANSCVR 56SSOP | 56-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | 管件 |
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SN74ABTH16460DLR |
Texas Instruments | IC REGISTERED TRANSCVR 56SSOP | 56-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | 带卷 (TR) |
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SN74ABTH182652APM |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP | 64-LQFP | 托盘 |
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SN74ABTH18646APMG4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP | 64-LQFP | 托盘 |
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