| 外观 | 制造商零件编号 | 制造商 | 描述 | 封装/外壳 | 包装 | ROHS |
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SN74ABT18652PMG4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP | 64-LQFP | 托盘 |
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SN74ABT8245DWE4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 24-SOIC | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 管件 |
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SN74ABT8245DWG4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 管件 |
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SN74ABT8245DWRE4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 24-SOIC | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 带卷 (TR) |
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SN74ABT8245DWRG4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 带卷 (TR) |
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SN74ABT8543DLG4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP | 28-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | 管件 |
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SN74ABT8543DLRG4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP | 28-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | 带卷 (TR) |
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SN74ABT8543DLR |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP | 28-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | 带卷 (TR) |
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SN74ABT8543DWE4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 管件 |
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SN74ABT8543DWG4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 管件 |
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SN74ABT8543DWRE4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 带卷 (TR) |
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SN74ABT8543DWRG4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 带卷 (TR) |
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SN74ABT8543DWR |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 带卷 (TR) |
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SN74ABT8646DLG4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP | 28-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | 管件 |
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SN74ABT8646DLRG4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP | 28-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | 带卷 (TR) |
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