| 外观 | 制造商零件编号 | 制造商 | 描述 | 封装/外壳 | 包装 | ROHS |
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CD74HCT283MT |
Texas Instruments | IC BIN FULL 4BIT ADD CAR 16SOIC | 16-SOIC（0.154"，3.90mm 宽） | 带卷 (TR) |
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CLVT8996DWG4 |
Texas Instruments | IC 10-BIT SCAN PORT XCVR 24-SOIC | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 管件 |
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SN7497NE4 |
Texas Instruments | IC SYNC 6BIT BIN RATE MULT 16DIP | 16-DIP（0.300"，7.62mm） | 管件 |
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SN74ABT18245ADLG4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP | 56-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | 管件 |
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SN74ABT18245ADLRG4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP | 56-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | 带卷 (TR) |
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SN74ABT18502PMG4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP | 64-LQFP | 托盘 |
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SN74ABT18502PMRG4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP | 64-LQFP | 带卷 (TR) |
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SN74ABT18502PMR |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP | 64-LQFP | 带卷 (TR) |
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SN74ABT18504PMG4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP | 64-LQFP | 托盘 |
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SN74ABT18504PMRG4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP | 64-LQFP | 带卷 (TR) |
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SN74ABT18504PMR |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP | 64-LQFP | 带卷 (TR) |
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SN74ABT18640DLG4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP | 56-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | 管件 |
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SN74ABT18640DLRG4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP | 56-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | 带卷 (TR) |
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SN74ABT18640DLR |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP | 56-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | 带卷 (TR) |
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SN74ABT18646PMG4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP | 64-LQFP | 托盘 |
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