| 外观 | 制造商零件编号 | 制造商 | 描述 | 封装/外壳 | 包装 | ROHS |
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SN74ABT8646DLR |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP | 28-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | 带卷 (TR) |
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SN74ABT8646DWE4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 管件 |
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SN74ABT8646DWG4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 管件 |
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SN74ABT8646DWRE4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 带卷 (TR) |
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SN74ABT8646DWRG4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 带卷 (TR) |
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SN74ABT8646DWR |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 带卷 (TR) |
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SN74ABT8652DLG4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP | 28-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | 管件 |
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SN74ABT8652DLRG4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP | 28-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | 带卷 (TR) |
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SN74ABT8652DLR |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP | 28-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | 带卷 (TR) |
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SN74ABT8652DWE4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 管件 |
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SN74ABT8652DWG4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 管件 |
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SN74ABT8652DWRE4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 带卷 (TR) |
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SN74ABT8652DWRG4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 带卷 (TR) |
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SN74ABT8652DWR |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 带卷 (TR) |
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SN74ABT8952DLG4 |
Texas Instruments | IC SCAN TESST DEVICE 28-SSOP | 28-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | 管件 |
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