| 描述 | IC 18BIT SCAN TEST DEV 64-LQFP | 电源电压 | 4.5 V ~ 5.5 V |
|---|---|---|---|
| 位数 | 18 | 工作温度 | -40°C ~ 85°C |
| 安装类型 | 表面贴装 | 封装/外壳 | 64-LQFP |
| 供应商设备封装 | 64-LQFP（10x10） | 包装 | 托盘 |
【Texas Instruments】74ABTH182652APMG4,IC 18BIT SCAN TEST DEV 64-LQFP
【Texas Instruments】74ABTH18502APMRG4,IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP
【Texas Instruments】74ABTH18504APMRG4,IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP
【Texas Instruments】74ABTH25245DWRE4,IC BUS TRANSCEIVER 8BIT 24SOIC
【Texas Instruments】74ABTH25245DWRG4,IC BUS TRANSCEIVER 8BIT 24SOIC
【Texas Instruments】74ABTR2245DGVRE4,IC TRANSCVR TRI-ST 8BIT 20TVSOP
【Texas Instruments】74ABTR2245DGVRG4,IC TRANSCVR TRI-ST 8BIT 20TVSOP
