描述 | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP | 输入数 | - |
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电路数 | 18 位 | 输出电流高,低 | 32mA,64mA |
电源电压 | 4.5 V ~ 5.5 V | 工作温度 | -40°C ~ 85°C |
安装类型 | 表面贴装 | 封装/外壳 | 64-LQFP |
供应商设备封装 | 64-LQFP(10x10) | 包装 | Digi-Reel? |
其它名称 | 296-14683-6 |
【Texas Instruments】SN74ABTH18504APM,IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP
【Texas Instruments】SN74ABTH18504APMG4,IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP
【Texas Instruments】SN74ABTH18504APMR,IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP
【Texas Instruments】SN74ABTH18646APM,IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
【Texas Instruments】SN74ABTH18646APMG4,IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP
【Texas Instruments】SN74ABTH18652APM,IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
【Texas Instruments】SN74ABTH18652APMG4,IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP
【Texas Instruments】SN74ABTH245DBR,IC BUS TRANSCEIVER 8BIT 20SSOP