| 描述 | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | 电源电压 | 4.5 V ~ 5.5 V |
|---|---|---|---|
| 位数 | 8 | 工作温度 | 0°C ~ 70°C |
| 安装类型 | 表面贴装 | 封装/外壳 | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） |
| 供应商设备封装 | 24-SOIC | 包装 | 管件 |
| 其它名称 | 296-33846-5SN74BCT8240ADW-ND |
【Texas Instruments】SN74BCT8240ADWE4,IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
【Texas Instruments】SN74BCT8240ADWG4,IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
【Texas Instruments】SN74BCT8240ADWR,IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
【Texas Instruments】SN74BCT8240ADWRE4,IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
【Texas Instruments】SN74BCT8240ADWRG4,IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
【Texas Instruments】SN74BCT8240ANT,IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
【Texas Instruments】SN74BCT8240ANTE4,IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
