| 描述 | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP | 电源电压 | 4.5 V ~ 5.5 V |
|---|---|---|---|
| 位数 | 8 | 工作温度 | 0°C ~ 70°C |
| 安装类型 | 通孔 | 封装/外壳 | 24-DIP（0.300"，7.62mm） |
| 供应商设备封装 | 24-PDIP | 包装 | 管件 |
【Texas Instruments】SN74BCT8244ADW,IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
【Texas Instruments】SN74BCT8244ADWE4,IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
【Texas Instruments】SN74BCT8244ADWG4,IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24SOIC
【Texas Instruments】SN74BCT8244ADWR,IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
【Texas Instruments】SN74BCT8244ADWRE4,IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
【Texas Instruments】SN74BCT8244ADWRG4,IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24SOIC
【Texas Instruments】SN74BCT8244ANT,IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP