| 描述 | IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP | 逻辑类型 | 扫描测试设备，带总线收发器 |
|---|---|---|---|
| 供电电压 | 4.5V ~ 5.5V | 位数 | 8 |
| 工作温度 | 0°C ~ 70°C | 安装类型 | 通孔 |
| 封装/外壳 | 24-DIP（0.300"，7.62mm） | 供应商器件封装 | 24-PDIP |
【Texas Instruments】SN74BCT8373ADW,IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
【Texas Instruments】SN74BCT8373ADWE4,IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
【Texas Instruments】SN74BCT8373ADWG4,IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
【Texas Instruments】SN74BCT8373ADWR,IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
【Texas Instruments】SN74BCT8373ADWRE4,IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
【Texas Instruments】SN74BCT8373ADWRG4,IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
【Texas Instruments】SN74BCT8373ANT,IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP
【Texas Instruments】SN74BCT8373ANTE4,IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP
