| 引脚数目 | 64 | 数据流方向 | 双向 |
|---|---|---|---|
| 最低工作温度 | -40°C | 最大低电平输出电流 | 64mA |
| 最大工作电源电压 | 3.6 V | 最大高电平输出电流 | -32mA |
| 最小工作电源电压 | 2.7 V | 最长传播延迟时间@最长CL | 7.7 ns @ 2.7 V |
| 最高工作温度 | +85°C | 极性 | 非反相 |
| 每片芯片元件数目 | 2 | 每片芯片通道数目 | 18 |
| 输入电平 | LVTTL | 输出电平 | LVTTL |
| 逻辑功能 | 扫描测试设备，带通用总线收发器 | 逻辑系列 | LVT |
| 长度 | 17mm | 高度 | 1.15mm |
【Texas Instruments】SN74LVTH182512DGGR,IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP
【Texas Instruments】SN74LVTH182646APM,IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
【Texas Instruments】SN74LVTH182652APM,IC SCAN TEST DEVICE ABT 64-LQFP
【Texas Instruments】SN74LVTH18502APM,IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
【Texas Instruments】SN74LVTH18502APMG4,IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
【Texas Instruments】SN74LVTH18502APMR,IC 18BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP
【Texas Instruments】SN74LVTH18504APM,IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
【Texas Instruments】SN74LVTH18504APMG4,IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP