| 外观 | 制造商零件编号 | 制造商 | 描述 | 封装/外壳 | 包装 | ROHS |
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SN74LS31N |
Texas Instruments | IC HEX DELAY ELEMENT 16-DIP | 16-DIP（0.300"，7.62mm） | 管件 |
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SN74LV161284DLR |
Texas Instruments | IC 19-BIT BUS INTERFACE 48-SSOP | 48-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | Digi-Reel? |
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SN74S1051D |
Texas Instruments | IC 12-BIT BUS TERM ARRAY16-SOIC | 16-SOIC（0.154"，3.90mm 宽） | 管件 |
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SN74S1051N |
Texas Instruments | IC 12-BIT BUS TERM ARRAY16-DIP | 16-DIP（0.300"，7.62mm） | 管件 |
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SN74S1052DWR |
Texas Instruments | IC 16-BIT BUS TERM ARRAY20-SOIC | 20-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 带卷 (TR) |
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SN74S1052N |
Texas Instruments | IC 16-BIT BUS TERM ARRAY20-DIP | 20-DIP（0.300"，7.62mm） | 管件 |
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SN74ABT18245ADGGR |
Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP | 56-TFSOP（0.240"，6.10mm 宽） | Digi-Reel? |
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SN74ABT18245ADL |
Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP | 56-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | 管件 |
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SN74ABT18245ADLR |
Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP | 56-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | Digi-Reel? |
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SN74ABT18502PM |
Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP | 64-LQFP | 托盘 |
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SN74ABT18504PM |
Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP | 64-LQFP | 托盘 |
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SN74ABT18640DGGR |
Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP | 56-TFSOP（0.240"，6.10mm 宽） | Digi-Reel? |
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SN74ABT18640DL |
Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP | 56-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | 管件 |
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SN74ABT18646PM |
Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP | 64-LQFP | 托盘 |
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SN74ABT18652PM |
Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP | 64-LQFP | 托盘 |
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