| 外观 | 制造商零件编号 | 制造商 | 描述 | 封装/外壳 | 包装 | ROHS |
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SN74ABT8245DW |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEV/TXRX 24-SOIC | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 管件 |
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SN74ABT8543DL |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEV/TXRX 28-SSOP | 28-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | 管件 |
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SN74ABT8543DW |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEV/TXRX 28-SOIC | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 管件 |
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SN74ABT8646DL |
Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP | 28-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | 管件 |
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SN74ABT8646DW |
Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 管件 |
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SN74ABT8652DL |
Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP | 28-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | 管件 |
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SN74ABT8952DL |
Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP | 28-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | 管件 |
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SN74ABT8952DW |
Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 管件 |
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SN74ABT8996DW |
Texas Instruments | IC ADDRESSABLE SCAN PORT 24-SOIC | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 管件 |
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SN74ABT8996DWR |
Texas Instruments | IC ADDRESSABLE SCAN PORT 24-SOIC | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | Digi-Reel? |
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SN74ABT8996PWR |
Texas Instruments | IC ADDRESSABLE SCAN PORT 24TSSOP | 24-TSSOP（0.173"，4.40mm 宽） | Digi-Reel? | - |
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SN74ABTE16246DGGR |
Texas Instruments | IC 11-BIT I-WS BUS TXRX 48-TSSOP | 48-TFSOP（0.240"，6.10mm 宽） | Digi-Reel? |
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SN74ABTE16246DL |
Texas Instruments | IC 11-BIT I-WS BUS TXRX 48-SSOP | 48-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | 管件 |
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SN74ABTE16246DLR |
Texas Instruments | IC 11-BIT I-WS BUS TXRX 48-SSOP | 48-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | Digi-Reel? |
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SN74ABTH16460DGGR |
Texas Instruments | IC REGISTERED TRANSCVR 56TSSOP | 56-TFSOP（0.240"，6.10mm 宽） | Digi-Reel? |
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