| 外观 | 制造商零件编号 | 制造商 | 描述 | 封装/外壳 | 包装 | ROHS |
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SN74BCT8373ANTE4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP | 24-DIP（0.300"，7.62mm） | 管件 |
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SN74BCT8374ADWE4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 管件 |
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SN74BCT8374ADWG4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 管件 |
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SN74BCT8374ADWRE4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 带卷 (TR) |
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SN74BCT8374ADWRG4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 带卷 (TR) |
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SN74BCT8374ADWR |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 带卷 (TR) |
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SN74BCT8374ANTE4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP | 24-DIP（0.300"，7.62mm） | 管件 |
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SN74BCT8374ANT |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP | 24-DIP（0.300"，7.62mm） | 管件 |
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SN74F1016DWE4 |
Texas Instruments | IC ARRAY BUS-TERM 16BIT 20-SOIC | 20-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 管件 |
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SN74F1016DWG4 |
Texas Instruments | IC SCHOTTKY BARRIER DIODE 20SOIC | 20-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 管件 |
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SN74F1016DWRE4 |
Texas Instruments | IC ARRAY BUS-TERM 16BIT 20-SOIC | 20-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 带卷 (TR) |
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SN74F1016DWRG4 |
Texas Instruments | IC SCHOTTKY BARRIER DIODE 20SOIC | 20-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 带卷 (TR) |
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SN74F1056DE4 |
Texas Instruments | IC ARRAY BUS-TERM 8BIT 16-SOIC | 16-SOIC（0.154"，3.90mm 宽） | 管件 |
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SN74F1056DG4 |
Texas Instruments | IC SCHOTTKY BARRIER DIODE 16SOIC | 16-SOIC（0.154"，3.90mm 宽） | 管件 |
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SN74F1056DRE4 |
Texas Instruments | IC ARRAY BUS-TERM 8BIT 16-SOIC | 16-SOIC（0.154"，3.90mm 宽） | 带卷 (TR) |
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