| 外观 | 制造商零件编号 | 制造商 | 描述 | 封装/外壳 | 包装 | ROHS |
|---|---|---|---|---|---|---|
|
SN74BCT8244ANTE4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP | 24-DIP（0.300"，7.62mm） | 管件 |
|
|
SN74BCT8245ADWE4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 管件 |
|
|
|
SN74BCT8245ADWG4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 管件 |
|
|
|
SN74BCT8245ADW |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 管件 |
|
|
|
SN74BCT8245ADWRE4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 带卷 (TR) |
|
|
|
SN74BCT8245ADWRG4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 带卷 (TR) |
|
|
|
SN74BCT8245ADWR |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 带卷 (TR) |
|
|
|
SN74BCT8245ANTE4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP | 24-DIP（0.300"，7.62mm） | 管件 |
|
|
|
SN74BCT8245ANT |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP | 24-DIP（0.300"，7.62mm） | 管件 |
|
|
|
SN74BCT8373ADWE4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 管件 |
|
|
|
SN74BCT8373ADWG4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 管件 |
|
|
|
SN74BCT8373ADW |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 管件 |
|
|
|
SN74BCT8373ADWRE4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 带卷 (TR) |
|
|
|
SN74BCT8373ADWRG4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 带卷 (TR) |
|
|
|
SN74BCT8373ADWR |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 带卷 (TR) |
|