| 外观 | 制造商零件编号 | 制造商 | 描述 | 封装/外壳 | 包装 | ROHS |
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SN74BCT29854NTE4 |
Texas Instruments | IC TRANSCEIVER 1-9BIT 24DIP | 24-DIP（0.300"，7.62mm） | 管件 |
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SN74BCT29854NT |
Texas Instruments | IC TRANSCEIVER 1-9BIT 24DIP | 24-DIP（0.300"，7.62mm） | 管件 |
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SN74BCT8240ADWE4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 管件 |
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SN74BCT8240ADWG4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 管件 |
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SN74BCT8240ADWRE4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 带卷 (TR) |
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SN74BCT8240ADWRG4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 带卷 (TR) |
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SN74BCT8240ADWR |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 带卷 (TR) |
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SN74BCT8240ANTE4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP | 24-DIP（0.300"，7.62mm） | 管件 |
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SN74BCT8240ANT |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP | 24-DIP（0.300"，7.62mm） | 管件 |
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SN74BCT8244ADWE4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 管件 |
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SN74BCT8244ADWG4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24SOIC | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 管件 |
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SN74BCT8244ADW |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 管件 |
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SN74BCT8244ADWRE4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 带卷 (TR) |
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SN74BCT8244ADWRG4 |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24SOIC | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 带卷 (TR) |
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SN74BCT8244ADWR |
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 带卷 (TR) |
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