| 描述 | IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP | 电源电压 | 4.5 V ~ 5.5 V |
|---|---|---|---|
| 位数 | 8 | 工作温度 | 0°C ~ 70°C |
| 安装类型 | 通孔 | 封装/外壳 | 24-DIP（0.300"，7.62mm） |
| 供应商设备封装 | 24-PDIP | 包装 | 管件 |
【Texas Instruments】SN74BCT8373ADW,IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
【Texas Instruments】SN74BCT8373ADWE4,IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
【Texas Instruments】SN74BCT8373ADWG4,IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
【Texas Instruments】SN74BCT8373ADWR,IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
【Texas Instruments】SN74BCT8373ADWRE4,IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
【Texas Instruments】SN74BCT8373ADWRG4,IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
【Texas Instruments】SN74BCT8373ANT,IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP