| 描述 | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP | 电源电压 | 4.5 V ~ 5.5 V |
|---|---|---|---|
| 位数 | 18 | 工作温度 | -40°C ~ 85°C |
| 安装类型 | 表面贴装 | 封装/外壳 | 64-LQFP |
| 供应商设备封装 | 64-LQFP（10x10） | 包装 | 托盘 |
| 其它名称 | 296-4133 |
【Texas Instruments】SN74ABTH182652APM,IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP
【Texas Instruments】SN74ABTH18502APM,IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP
【Texas Instruments】SN74ABTH18502APMG4,IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP
【Texas Instruments】SN74ABTH18502APMR,IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP
【Texas Instruments】SN74ABTH18504APM,IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP
【Texas Instruments】SN74ABTH18504APMG4,IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP
【Texas Instruments】SN74ABTH18504APMR,IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP
【Texas Instruments】SN74ABTH18646APM,IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP