| 描述 | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | 电源电压 | 2.7 V ~ 3.6 V |
|---|---|---|---|
| 位数 | 20 | 工作温度 | -40°C ~ 85°C |
| 安装类型 | 表面贴装 | 封装/外壳 | 64-LQFP |
| 供应商设备封装 | 64-LQFP（10x10） | 包装 | 托盘 |
| 其它名称 | 296-8697 |
【Texas Instruments】SN74LVTH182512DGGR,IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP
【Texas Instruments】SN74LVTH182646APM,IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
【Texas Instruments】SN74LVTH182652APM,IC SCAN TEST DEVICE ABT 64-LQFP
【Texas Instruments】SN74LVTH18502APM,IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
【Texas Instruments】SN74LVTH18502APMG4,IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
【Texas Instruments】SN74LVTH18502APMR,IC 18BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP
【Texas Instruments】SN74LVTH18504APM,IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP